SJ 50033.36-1994 半导体分立器件.3CD050型功率晶体管详细规范

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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/36-94,半导体分立器件,3CD050型功率晶体管,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for,type 3CD050 power transistor,1994*09-30 发布1994-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3CD050型功率晶体管,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for,type 3CD050 power transistor,SJ 50033/36-94,1范围,1.1主题內容,本规范规定了 3CDO5O型功率晶体管(以下简称器件)的详细要求,1-2适用范围.,本规范适用于器件的研制、生产和采购,L3分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1-3-1器件的等级,按GJB 33《半导体分立器件总规范》1.3条的规定,提供的质量保证等级为普军、特军和超,特军三级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 4587—84双极型晶体管测试方法,GB 7581—87半导体分立器件外形尺寸,GJB 33—85 半导体分立器件总规范,GJB 128—86半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项耍求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3-2-1引出端材料和涂层,引出端材料应为可伐。引出端表面应为锡层或银层,中华人民共和国电子工业部1994-0f30发布1994-12-01 实施,一]——,SJ 50033/36-94,3.2 2器件结构,采用外延台面、三重扩散及高温冶金烧结结构,3.2.3外形尺寸,外形尺寸应符合GB 7581的B2-Q1C型及如下的规定。见图1,mm,符号、ぐ^,B2roic,min nom max,A,8. 63,12.19,翘L52,他0.光6 b 092,松2着86,d 5.4才,F 3.50,L B J3.9,ムL52,斷3.84 4.21,q 2射90 * 30. 40,尺13.58,凡b 82,S 16*89*,い40* 13,a 27. 17,1 基极2 发射极集电极接外壳,图!外形图,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3 」最大额定價,型 号,(W),VcBO,(V),VcR},CV),ド丽,(V),Ic,(A),Tエ,(C),T随,25 C时,按5OQmW/C的速率线性地降额,3.3 -2主要电特性(7ネ=25‘。),—2 ~,SJ 50033/36-94,极限值,型号,んFE,Vc卜 ホ — 5V,5A,(3CD050B-C),= 1. 2A,(3CD050D-F),VcE(sat) VucCsat),ハ,?ck 一 5V,7c —1. 5 A,1MHz,(MH 名),&卜(]"L 1,VCE=-10V,/c=l. 5A,25c く Tc く ア5,C C/W),Ic~2- 5A /H = 0. 5A,(3CDO50B-C),7c = L 2AJu = 0, 24A,(3CDO5QD .F),(V) (V),最大值最大值最小值最大值,3CDO5OB .F,黄:40.80,绿:60.120,蓝:10〇.160,1.5 1.8 3 2,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 4587及本规范的规定,3 - 5标志,标志应符合GJB 33和本规范的规定,4质量保证规定,41抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33的规定,4 .2鉴定检验,鉴定检驗应按GJB 33的规定,4 3筛选(仅对GT和GCT级),筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范,表1极限值的器件应予剔除,筛 选,(见GJB 33的表2),恻试或试验,7.中间电参数测试Ic 和 Afei,8,功率老化功率老化条件如下i,T」= 162.5±12. 5C,匕;e = -25 V,PQ37. 5W,9.最后测试按本规范表1的A2分组,△ん山く初始值的100%或200VA,取较大者,次阳(初始值的士 20%,44质量一致性检验,质量,致性检验应按GJB 33的规定,4.4.1 A组检验,A组检盼应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4.2 B组检验,一 3 一,SJ 50033/36—94,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,ム&3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定迸行,4.5检验方法,检验方法应按本规范相应的表和下列规定:,4-5-1脉冲测试,脉冲测试条件应按GJB 128的3. 3. 2.1的规定,表! A组检验,检验或试験,GB 1587,I TPD 符号,极限值,単位,方 法条 件最小值最大值,A1分组,外观及机械检验GJB 128,2071,5,A2分组,集电极…发射极,击穿电压,3CD050B,3CD050C,3CD050D,3CD050E,3CD050F,发射极一基极,击穿电压,集电极一基极,截止电流,集电极发射极,截止电流,集电极发射粮,饱和电……

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